Abstract
Ozet. Gereksiz tekrarlanmis kodlar (klonlar) iyi dokumante edilmemis ve bakimi zor olan kodlardir. Bu tip kodlarda, tespit edilen bir hatanin tum tekrarlarda duzeltilmesi gerekir. Bu durum yazilim bakim maliyetlerini onemli olcude artirdigi gibi kodlarin okunabilirligi ve anlasilabilirligi icin daha fazla caba sarf edilmesini de gerektirir. Gunumuz literaturunde kod klon problemlerini azaltmak ya da engellemek icin bircok teknik onerilmistir. Bu tekniklerin odaginda klon kod tespiti yer almaktadir. Klon kod‟lar iki ana baslik altinda incelenmektedir. Yazilim icerisinde kod parcaciginin benzerliginden kaynaklanan tekrarlamalara basit klon adi verilirken, sistem mimarisi icerisinde, soyutlandirmanin birden cok seviyesinde, ayni yapi ile insa edilmis program yapilarina yapisal klon denmektedir. Basit klon tespit teknikleri, tekrarlanan kod parcaciklarina genis bir acidan bakamadiklari icin, bunlarin tasarim seviyesindeki olasi tekrarlamalardan kaynaklanip kaynaklanmadigini saptayamamaktadir. Buradaki eksikligi gidermeyi amaclayan yapisal klon tespitleri ise, yazilimdaki ust seviye benzerliklerinin ortaya cikartilmasi, yeniden kullanilabilirligin artirilmasi ve yazilimin basitlestirilmesine odaklanan yontemlerden olusmaktadir. Son yillarda, yapisal klon tespit teknikleri icin, birbirinden farkli oneriler yapilmistir. Bu calismada yapisal klonlarin tespitinde literaturde yapilmis olan calismalari analiz ederek, yazilim metriklerine dayali olarak yapisal kod klon tespitinin nasil yapilabilecegi konusunda bir degerlendirme yapacagiz.